СТАТЬИ И ПУБЛИКАЦИИ

Вход или Регистрация

ПОМОЩЬ В ПАТЕНТОВАНИИ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ФОРУМ Научно-техническая библиотекаНаучно-техническая библиотека SciTecLibrary
 
G12B - Конструктивные элементы приборов, не отнесенные к другим подклассам
Примечание :
(1) К данному подклассу отнесены конструктивные элементы приборов, не упомянутые в других подклассах.
(2) К данному подклассу не относятся :
- конструктивные элементы, упоминаемые в подклассах разделов A,F,G или H, которые подлежат классификации индексами подгрупп, соответствующих подклассов. В частности, конструктивные элементы, имеющие отношение к измерительным приборам, следует классифицировать в подклассах класса G01, например в G01D;
- конструктивные элементы для электрических устройств, например кожухи, корпуса, экраны, которые отнесены к H05K или к другому соответствующему подклассу раздела H.
(3) Следует обратить внимание на примечание к разделу G, в особенности на определение термина "измерение" п.(2), следующим за заголовком класса G01.
Содержание :
ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ, СПОСОБНЫЕ ПРОИЗВОДИТЬ ДВИЖЕНИЕ ИЛИ ПЕРЕМЕЩЕНИЕ; КОНСТРУКТИВНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫG12B 1/00,G12B 3/00
РЕГУЛИРОВАНИЕ ПОЛОЖЕНИЯ; КОМПЕНСАЦИЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ВЛИЯНИЙG12B 5/00,G12B 7/00
КОРПУСА, КОЖУХИ, СТОЙКИ; УКАЗАТЕЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫG12B 9/00,G12B 11/00
ГРАДУИРОВКА; КАЛИБРОВКА ПРИБОРОВG12B 13/00
ОХЛАЖДЕНИЕ; ЭКРАНИРОВАНИЕG12B 15/00,G12B 17/00
КОНСТРУКТИВНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ УСТРОЙСТВ, ИСПОЛЬЗУЮЩИЕ МЕТОД СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДАG12B 21/00

G12B 1/00 Чувствительные элементы, способные производить движение или перемещение, применение которых не ограничивается целями измерения; передаточные механизмы, связанные с ними
G12B 3/00 Особые конструктивные элементы, не отнесенные к другим группам (конструктивные элементы устройств, использующих метод сканирующего зонда G12B 21/00; демпфирование толчков или колебаний F16F; устранение сил, нарушающих баланс F16F 15/00; испытание весов /балансировка/ G01M) [1,7]
G12B 5/00 Регулирование положения, например уровня, приборов или других устройств или их частей (уровни как таковые G01C 9/00); компенсация наклона или ускорения, например для оптических приборов
G12B 7/00 Компенсация температурных влияний (путем охлаждения G12B 15/00)
G12B 9/00 Корпуса, кожухи, стойки приборов или других устройств
G12B 11/00 Индикаторные элементы; освещение для них
G12B 13/00 Градуировка, калибровка приборов (градуировка измерительных приборов G01)
G12B 15/00 Охлаждение (замораживанием, например циркуляцией охлаждающей жидкости или газа F25D; конструктивные элементы и особенности теплообмена или теплопередачи общего назначения F28F)
G12B 17/00 Экранирование (изоляция или другая защита зданий E04B; аварийная защита аппаратуры вообще F16P 7/00; звукоизоляция G10K 11/00; экранирование от ядерного излучения G21F)
Примечание :

К этой группе относятся:
- защита приборов от внешнего излучения и других влияний;
- предотвращение эмиссии нежелательного излучения или других влияний приборов или другой аппаратуры.

G12B 21/00 Конструктивные элементы устройств, использующих метод сканирующего зонда [7]
Примечание :
(1) В данной группе применяемое выражение имеет следующее значение:
- "зонд" - это интерфейсное устройство, например игла с острым концом, очерчивающая границы зоны преобразования, в которой поддерживается взаимодействие, например получение туннельного тока в непосредственной близости к поверхности. [7]
(2) Следует обратить внимание на Примечания, следующие за заголовками класса B81 и подкласса B81B, которые относятся к "микроструктурным устройствам" и "микроструктурным системам" , и на Примечания, следующие за заголовком подкласса B82B, относящегося к "наноструктурам". [7]
(3) Далее следует перечень рубрик, где предусмотрены специфические применения с использованием техники сканирующего зонда:
B82B 3/00 Изготовление или обработка наноструктур; [7]
C23C Поверхностная обработка металлического материала; [7]
G01B Измерение размеров; [7]
G01N 13/10 Исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне; [7]
G11B 9/12, G11B 11/24, G11B 13/08 Запись или воспроизведение информации; [7]
H01J 37/00 Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материала, подлежащих воздействию разряда; [7]
H01L Способы или устройства для обработки полупроводниковых приборов или приборов на твердом теле. [7]

Назад

 
О проекте Контакты Архив старого сайта

Copyright © SciTecLibrary © 2000-2017

Агентство научно-технической информации Научно-техническая библиотека SciTecLibrary. Свид. ФС77-20137 от 23.11.2004.